《覆晶薄膜基板电气检查测试方法》团体标准审查会在徐召开

2021年12月1日，“覆膜基板电气检测与测试方法”集团标准审议会在腾讯会议上召开。会议由徐州市发明协会常务副会长孟Qingcai主持。

由徐州市协会发明的国家标准技术评价中心原国家标准技术审核专家李六有工程师、江苏师范大学教授、北京邮电大学教授王博博士、半导体研究所教授、中国科学院集成电路设备有限公司副研究员罗帅、江苏双速长西杨研究员等5位专家参加了座谈会。会议选举国家标准技术审评中心原国家标准技术审评专家李留友为审评专家组组长。

江苏尚达半导体股份有限公司与武汉大学、江苏华商企业管理咨询服务有限公司联合组织专家编写了《涂层基板电气检测与测试方法》专家组标准(项目编号:200710523)。: T / XAI2021-06)。

在听取了标准编制小组的报告后，评审专家组逐项对标准文本进行了评审，专家们从术语定义、技术要求、原则、检测方法等方面给出了非常中切、专业的修订意见，并进行了表决。专家审查的结论如下:

1. 《覆膜基板电气检验与试验方法》集团标准评审会议技术文件(项目编号:20075012)。: T/ xai20121 -06)完整、完整、真实，符合《徐州发明协会集团标准管理办法》(徐发协字(2016)第7号)的集团标准评审要求。

2. 该标准的技术指标、原则和方法合理、可操作性强，能够满足企业的要求。

3.专家建议如下:

3.1“微米”应改为“μm”;

3.2重新排列“镀膜基板电气检验和试验方法”4.1中的注释;

3.3重新整理图片格式，使之美观，并根据专家评审意见进一步完善。

4. 本标准格式完整，内容完整，表达清晰，文字精练，符合GB/T1.1-2020的相关要求。

审评专家一致同意集团标准《涂层薄膜基板电气检验与试验方法》(项目编号:2007508)。: T/XAI2021-06)已通过审核。在此次会议上，根据专家们的意见进行修改后，将形成集团标准，并在2021年12月中旬至下旬正式公布实施。

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